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The CMS barrel timing layer. Test beam confirmation of module timing performance Addesa, F.; Akrap, P.; Albert, A.; Allmond, B.; Anderson, T.; Babbar, J.; Baranyai, D.; Barria, P.; Basile, C.; Benaglia, A.; Benato, A.; Benettoni, M.; Besancon, M.; Bez, N.; Bhattacharya, S.; Bianco, R.; Blend, D.; Boletti, A.; Bornheim, A.; Bugalho, R.; Bulla, A.; Cardwell, B.; Carlin, R.; Casarsa, M.; Cetorelli, F.; Cossutti, F.; Cox, B.; Da Molin, G.; De Guio, F.; De Leo, K.; De Riggi, F.; Debbins, P.; Del Re, D.; Delli Gatti, R.; Dervan, J.; Devouge, P.; Dreimanis, K.; Eberlins, O. M.; Errico, F.; Fernandez, E.; Funk, W.; Gaile, A.; Gallinaro, M.; Gargiulo, R.; Gerosa, R.; Ghezzi, A.; Gyongyosi, B.; Hao, Z.; Heering, A. H.; Hu, Z.; Isocrate, R.; Jose, M.; Karneyeu, A.; Kim, M. S.; Krishna, A.; Kronheim, B.; Koseyan, O. K.; Ledovskoy, A.; Li, L.; Li, Z.; Lohezic, V.; Lombardi, F.; Lucchini, M. T.; Malberti, M.; Mao, Y.; Maravin, Y.; Marzocchi, B.; Mazzaro, D.; Menon Raghunandanan, R.; Meridiani, P.; Munoz Diaz, C.; Musienko, Y.; Nargelas, S.; Narvaez, L. L.; Neu, C.; Organtini, G.; Orimoto, T.; Osite, D.; Paganoni, M.; Palluotto, S.; Palmer, C.; Palmeri, N.; Pandolfi, F.; Paramatti, R.; Pauletto, T.; Perego, A.; Pikurs, G.; Pizzati, G.; Plese, R.; Quaranta, C.; Reales Gutierrez, G.; Redaelli, N.; Ronchi, S.; Rossin, R.; Sahin, M. O.; Santanastasio, F.; Schmidt, I.; Sidiropoulos Kontos, D.; Sievert, T.; Silva, R.; Simmerling, P.; Soffi, L.; Solanki, P.; Sorrentino, G.; Spiropulu, M.; Strautnieks, N. R.; Sun, X.; Szabo, D. D.; Tabarelli De Fatis, T.; Tamulaitis, G.; Taylor, R.; Titov, M.; Tosi, M.; Trabucco, G.; Tsirou, A.; Tully, C.; Turcato, M.; Ujvari, B.; Varela, J.; Veronese, F.; Vladimirov, V.; Wang, J.; Wayne, M.; White, S.; Wu, Z.; Wulff, J. W.; Wynne, R. A.; Zhang, L.; Zhang, M.; Zilizi, G. - 01a Articolo in rivista
paper: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT (Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE Amsterdam Netherlands:011 31 20 4853757, 011 31 20 4853642, 011 31 20 4853641, EMAIL: nlinfo-f@elsevier.nl, INTERNET: http://www.elsevier.nl, Fax: 011 31 20 4853598) pp. 1-7 - issn: 0168-9002 - wos: (0) - scopus: 2-s2.0-105011405065 (0)